반도체부품
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Probe Card
반도체의 동작을 검사하기 위하여, Wafer 상의 반도체 Chip과 Test 장비를
연결해주는 장치입니다. Probe Card에 있는 수만개의 미세한 Pin이
Wafer와 접촉, 전기적 신호를 통해 불량 Chip을 선별합니다.
마이크로투나노의 Probe Card는 반도체 Wafer 검사를 위해 MEMS Probe Tip에서 Main PCB로 신호를 전달하기 위한 독창적인 Space Transforming 기술을 가지고 있습니다.
우리 마이크로투나노는 Probe Card에 대한 R&D와 생산에 있어 다음과 같은 강점을 가지고 있습니다.
연결해주는 장치입니다. Probe Card에 있는 수만개의 미세한 Pin이
Wafer와 접촉, 전기적 신호를 통해 불량 Chip을 선별합니다.
마이크로투나노의 Probe Card는 반도체 Wafer 검사를 위해 MEMS Probe Tip에서 Main PCB로 신호를 전달하기 위한 독창적인 Space Transforming 기술을 가지고 있습니다.
우리 마이크로투나노는 Probe Card에 대한 R&D와 생산에 있어 다음과 같은 강점을 가지고 있습니다.
Strong R&D Capability
- 최고 수준의 회로 전문가 및 엔지니어 인력
- 국내외의 30개 이상의 특허 등록
- 우수한 MEMS Probe 설계 및 개발 기술 능력
- 국내외의 30개 이상의 특허 등록
- 우수한 MEMS Probe 설계 및 개발 기술 능력
Better Productivity and Reliability
- 우수한 성능을 가진 마이크로투나노 MEMS 기반의 Probe Tip
- Probe Tip과 MLC(Multi Layer Ceramic) 간의 견고한 Laser Micro Bonding
- 정확한 Alignment를 구현할 수 있는 기술
- Probe Tip과 MLC(Multi Layer Ceramic) 간의 견고한 Laser Micro Bonding
- 정확한 Alignment를 구현할 수 있는 기술
* Probe Card Manufacturing Process
* Probe Card의 규격
* Probe Card Specification
제품에 대해 궁금하신 사항이 있는 경우, 문의를 주시면 빠른시일 내로 답변 드리겠습니다.
감사합니다.
* Customers
